目標(biāo)化合物兩個(gè)批次樣品（樣品1和樣品2）的XRPD譜圖極其相似，兩個(gè)樣品的表征數(shù)據(jù)具有顯著差異：TGA結(jié)果顯示兩個(gè)樣品在100°C之前分別出現(xiàn) 1.5% 和 3% 的失重，由于樣品的晶體結(jié)構(gòu)未知，無(wú)法確認(rèn)樣品1和樣品2是否為同一晶型。
MicroED技術(shù)可用于區(qū)分結(jié)構(gòu)高度相似的不同晶型，降低產(chǎn)品中存在混合晶型的風(fēng)險(xiǎn)：
- MicroED結(jié)果解釋了樣品1和樣品2雖然具有相似XRPD光譜，但具有完全不同的晶體結(jié)構(gòu)。
- 如果沒(méi)有發(fā)現(xiàn)這兩種結(jié)構(gòu)，可能導(dǎo)致最終樣品中含有混合晶型，進(jìn)而影響理化性質(zhì)與質(zhì)量管控。
- 案例結(jié)果表明，在僅有粉末晶體樣品時(shí)，MicroED是快速且有效判定多晶型晶體結(jié)構(gòu)的有利方法。
